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ZEISS手持激光三維掃描儀T-Track 20及相關(guān)應(yīng)用發(fā)布日期：2025-03-11 22:12:14
近年來(lái)，三維激光掃描技術(shù)已成功應(yīng)用于多個(gè)制造領(lǐng)域。三維激光掃描可以準(zhǔn)確、快速、可靠地采集精確的數(shù)據(jù)信息。蔡司創(chuàng)新的全激光掃描解決方案以全新的面貌增強(qiáng)了其高性能、用戶友好性和靈活性。蔡司新型手持式激光3D掃描儀T-Track 20的推出，將快速、直觀、高精度的3D掃描提升到了坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)的全新水平。
蔡司模塊化激光掃描的卓越特性確保了在廣泛的應(yīng)用中快速和精確的數(shù)據(jù)采集。手持式激光三維掃描儀支持廣泛的應(yīng)用，包括設(shè)計(jì)，快速原型，快速模具制造和逆向工程，藝術(shù)品/歷史文物，考古文物掃描，醫(yī)療技術(shù)等。
產(chǎn)品亮點(diǎn)：。
改造了一種新的便攜式測(cè)量裝置，以補(bǔ)充現(xiàn)有的測(cè)量裝置。
使用測(cè)量時(shí)，不需要粘貼任何參考點(diǎn)和準(zhǔn)備工作，如表面處理和支持夾具。
測(cè)量手段：
擁有蔡司TSCAN 20設(shè)備，不僅可以實(shí)現(xiàn)光學(xué)產(chǎn)品的非接觸式測(cè)量，還可以實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)的接觸式檢測(cè)。
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